上海恒平紫外可见分光光度计756PC仪器介绍:
产品介绍:
产品适用于对紫外、可见光谱区域内物质的含量进行定量分析,可广泛应用于工厂、学校、冶金、农业、食品、生化、环保、石油化工、医疗卫生等单位的基础实验室。
仪器基本功能
定量测试:单主机下测试样品透过率T、吸光度A和能量,自动设定波长,自动调0Abs/100%T,可保存200条测试记录,可外接微型打印机,打印数据报告。
标准曲线法测试:可进行一阶过零、一阶线性标准曲线测试。最多可建立12个标样点的标准曲线,浓度结果直接显示,可保存50条曲线参数,可保存多达200条测试记录,可外接微型打印机打印图谱和数据报告。
参数法测试:用户输入直线工作参数K和B,浓度结果直接测试显示,可外接微型打印机打印图谱和数据报告。
系统设定:灯源管理,系统时钟管理,暗电流校正,波长校正,灯切换波长设置,版本信息功能。
附有UV-Solution2.0工作软件,具有多种测试、扫描等功能。
技术参数
参 数 |
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单色器 |
C-T式单色器,1200线全息光栅 |
检测器 |
硅光二极管 |
光源 |
卤钨灯20W/12V,氘灯,光源切换波长可设定 |
显示器 |
128×64大屏幕液晶显示 |
光谱带宽 |
2nm |
波长范围 |
190~1100nm(步进间隔0.1nm) |
波长最大允许误差 |
±1.0nm(开机自动校准) |
波长重复性 |
≤0.5nm |
测定范围 |
T:-1.0 ~ 200.0%T ,A:-0.5 ~ 3.000A,F:0 ~ 9999,C:0 ~ 9999 |
透射比大允许误差 |
±0.5%T |
透射比重复性 |
≤0.2%T |
杂散光 |
≤0.15%T(在220、360nm处) |
稳定性/噪声 |
暗电流<0.2%T 、亮电流<0.5%T |
基线平直度 |
±0.004A |
漂移 |
±0.002A/h |
数据输出 |
USB接口,LPT并行打印接口 |
软件支持 |
UV-Solution2.0工作站软件 |
电源 |
220V±10% 50Hz 70W |
尺寸 |
456×375×220 mm |
净重 |
17.5kg |